日本densoku电阻式膜厚计RST-231
日本densoku电阻式膜厚计RST-231
易于操作且时间短（0.7秒）
，可高精度测量绝缘体上的金属膜
-在0.7秒内测量绝缘体上的金属膜-
使用计算机
易于查看的屏幕-易于校准和测量-
可以立即查看直方图，轮廓等-
异常值检测功能
电阻膜厚计RST-231的特点
在0.7秒内测量绝缘子上的金属膜
它可以在短时间内（0.7秒）高精度测量绝缘体上的金属膜（铜箔，印刷电路板的镀层等）。
易于阅读的屏幕配置
屏幕大而明亮，使用个人计算机时很容易看到。
易于校准和测量
易于校准和测量。可以选择两个测量范围（2至24μm，10至120μm）。
可以立即看到各种数字
直方图，轮廓图和xR图表在统计处理后始终立即可用。
离群值检测功能
如果设定了膜厚的上限和下限，则将通知异常值。
支持更换每个探针
如果探头的探头损坏，则可以为每个探头更换它，并以低价维修。
易于统计处理
可以保存每个通道的测量数据，以后可以为测量数据设置统计项目以进行统计处理。
最多可以注册40个频道
由于最多可以注册40个通道，因此可以根据用户名和部件号??分别注册来管理通道。
支持更换每个探针
使用4探针（开尔文型），即使在双面板和多层板上也可以不受背面或内层的影响，进行高精度的测量。
直方图
xR控制图
统计显示
| 搜索间隔 | 探针尖 | |
| KD-110 | 1毫米 | 0.1R *标准产品 |
| KD-105 | 1毫米 | 0.05R |
| KD-120 | 1毫米 | 0.2R |
| KD-210 | 2毫米 | 0.1R |
| KD-220 | 2毫米 | 0.2R |
测量原理
 | 探头有四个金属针（探针），它们直立在一条直线上。 使四个探针与要测量的绝缘体上的金属片或镀金属表面接触。恒定电流（I）穿过两个外部探头，以测量电压（V）。可以在特定条件下通过以下公式计算与探针接触的金属片或金属镀层的厚度（T）。 T = K×I÷V 这里，K是一个常数 ，因此可以通过测量两个内部探针之间的电压来测量金属叶片或金属镀层的厚度。 |
电阻式膜厚计RST-231的规格? 4探针探针规格
| 型号（主体） | RST-231型 |
| 测量原理 | 4探针电阻型 |
| 测量范围 | 2至24μm，10至120μm |
| 通道数 | 40个频道 |
| 资料容量 | 100,000个数据 |
| 展示 | 取决于计算机的显示器屏幕 |
| 统计处理 | 值，最小值，平均值，标准偏差，直方图，上限和下限设置 |
| 电源 | AC100-240V 50 / 60Hz，10VA（主机） |
| 尺寸 | 280（W）x230（D）x88（H）（主机） |
| 配件 | 4探针KD-110 标准板TCU-145探针 |
